ZB J 13002.5-1990 紧固件测试方法 销的尺寸与几何精度
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 21:26:32 浏览:8422
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 紧固件测试方法 销的尺寸与几何精度 |
| 中标分类： |
机械 >>
通用零部件 >>
紧固件 |
| 替代情况： | 被JB/T 9151.5-1999代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1991-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 机械 通用零部件 紧固件
【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Blankdetailspecification-MOSread/writedynamicmemoriessiliconmonolithiccircuits
【原文标准名称】:电子元器件用质量评估协调体系.空白详细规范.MOS读/写动态存贮器单晶硅电路
【标准号】:BSCECC90112-1987
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1987-08-15
【实施或试行日期】:1987-08-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:资格鉴定;试验条件;认可试验;统计质量控制;电路;电子设备及元件;质量管理;质量保证体系;半导体器件;硅;检验;电子存储器;计算机存储设备;单片集成电路;金属氧化物半导体;半导体存储器;数字集成电路;数字电路;规范(批准);集成电路;矽;评估的质量;直接存取存储器;集成存储器电路;详细规范
【英文主题词】:Approvaltesting;Assessedquality;Circuits;Computerstoragedevices;Detailspecification;Digitalcircuits;Digitalintegratedcircuits;Direct-accessstorage;Electronicequipmentandcomponents;Electronicstorage;Inspection;Integratedcircuits;Integratedmemorycircuits;Metaloxidesemiconductors;Monolithicintegratedcircuits;Qualificationapproval;Qualityassurancesystems;Qualitycontrol;Semiconductordevices;Semiconductorstorage;Silicon;Specification(approval);Statisticalqualitycontrol;Testingconditions
【摘要】:Thisstandardliststheratings,characteristicsandinspectionrequire-mentswhichshallbeincludedasmandatoryrequirementsinaccordancewithBSCECC90100inanydetailspecificationforthesedevices.
【中国标准分类号】:L56;L00
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 饮用天然矿泉水中总β放射性的测定方法 |
| 中标分类： |
食品 >>
饮料 >>
饮料制品 |
| 替代情况： | 被GB/T 8538-1995代替 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1988-08-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 食品 饮料 饮料制品
